測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：06-29 2023 來自：祥宇精密
測長儀是一種用于測量長度、距離或厚度的工具，在許多領域中都有廣泛的應用。本文將介紹測長儀的基本概念，闡述其原理和功能，并探討不同類型的測長儀及其應用領域。作為精密測量工具的代表之一，測長儀在工業、制造、建筑和科學研究等領域中扮演著重要角色。
一、測長儀的基本原理
1. 直尺原理：直尺是最簡單、最常見的測長儀之一，通過刻度線和游標的組合來測量長度。
2. 激光測距原理：激光測長儀利用激光束發射和接收的時間差來計算測量物體的距離。
3. 光干涉原理：光干涉式測長儀利用光的干涉現象測量長度，通過將光束分成兩部分并在目標上發生干涉，計算得出長度值。
4. 磁性原理：磁性測長儀使用磁場感應原理來測量物體的長度或位移。
二、測長儀的功能和應用領域
1. 長度測量：測長儀可精確測量物體的長度，包括直線長度、曲線長度和周長等。
2. 距離測量：激光測距儀廣泛應用于建筑工程、地理測繪和制造業中，可以快速準確地測量遠距離對象的距離。
3. 厚度測量：測長儀可用于測量材料的厚度，例如金屬板、紙張和塑料薄膜等。
4. 位移測量：磁性測長儀常用于測量機械零件的位移和位置變化。
5. 校準和質量控制：測長儀在校準其他測量工具和保證產品質量方面起著重要作用。
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